Оборудование
Сканирующий рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 (Shimadzu, Япония)
Скачать буклет
Описание
Сканирующий рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 позволяет выполнять:
- качественный и количественный анализ от бериллия 4Be до урана 92U за минимальное время 2,5 минуты;
- картирование распределения элементов по поверхности образца с шагом 250 мкм (патент);
- качественный/количественный анализ с использованием линий высших порядков (патент);
- локальный анализ в точке Ø500 мкм с помощью коллиматоров и встроенной цифровой камеры;
- определение толщины и элементного состава плёнок неорганической и органической природы методом фоновых фундаментальных параметров с использованием линий Рэлеевского и Комптоновского рассеяния (патент);
- анализировать в среде воздуха или вакуума по выбору оператора, дополнительно возможно проведение анализа в среде инертного газа (гелий, азот).
XRF-1800 имеет уникальную систему подачи образца маятникового типа, без динамических нагрузок.
Стандартный автосамплер на 8 позиций. Управление прибором осуществляется с помощью русифицированного программного обеспечения.
Для эксплуатации прибора не требуется специального помещения. Cпектрометр XRF-1800 освобождается от радиационного учета и контроля после оформления соответствующего санитарно-эпидемиологического заключения и от необходимости получения лицензии на право осуществления деятельности в области использования техногенных ИИИ.
Внесен в ГОСРЕЕСТР РФ, имеет Государственный метрологический сертификат РФ.
Технические характеристики
| Диапазон определяемых элементов | От бериллия до урана, базовая комплектация от кислорода до урана |
|---|---|
| Рентгеновский генератор | |
| Трубка | Rh -анод с тонким торцевым окном, мощность 4 кВт Опции: W , Pt , Cr , Rh/Cr , Rh/W аноды |
| Параметры | 60 кВ, 150 мА |
| Система охлаждения | Двойной контур: внутренний замкнутый для охлаждения анода; внешний контур для охлаждения трубки может быть открытым (стандартное исполнение) или замкнутым (опция). |
| Спектрометр | |
| Облучение образца | Сверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин |
| Система ввода образца | Маятникового типа, без динамических нагрузок |
| Автосамплер | 8 позиций, 40-позиционный (опция) |
| Держатели образцов | 7 для массивных образцов, 1 для локального анализа |
| Размер образца | 51 мм в диаметре, высота 38 мм |
| Первичные фильтры | Автоматическая смена Al / Ti / Ni / Zr /без фильтра |
| Апертуры | Автоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм |
| Локальный анализ | 0.5 мм диаметр, цифровая камера для контроля области анализа (опция) |
| Первичные щели | Автоматическая смена 3-х типов: стандартная, с высоким разрешением, с высокой чувствительностью |
| Аттенюатор | Автоматическое включение/выключение |
| Сменщик кристаллов | Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях |
| Кристаллы-анализаторы | LiF (200), PET , Ge , TAP стандартные; LiF (220), SX -52, SX -1, SX -14, SX -48, SX -58 N , SX -76, SX -410 опции |
| Детекторы | Сцинтилляционный счётчик ( SC ) для тяжёлых элементов, проточный пропорциональный счётчик ( FPC ) для лёгких элементов |
| Система подачи газа для FPC | Электронный контроль плотности; потребление газа 5 см³/мин Автоматическая смена нити счётчика |
| Контроль степени разрежения | Стабилизатор вакуума |
| Атмосфера анализа | Воздух/гелий (опция)/вакуум (предварительное вакуумирование с двумя скоростями) |
Применения
- Электроника и магнитные материалы
- Химическая промышленность
- Нефтяная, нефтехимическая и угольная промышленость
- Силикатные материалы ( цементы, стекла, керамика, горные породы)
Аксессуары
| • Пленка Mylar, 500 листов/упак. | |
| • Пленка полипропиленовая, 7 мм (Ш ) х 92 м, рулон. | |
| • Мельницы (для гомогенизации пробы). | |
 |
• Система замкнутого водяного охлаждения (фирма Orion, Япония; фирма Labtech, Италия).
|
 |
• Пресс, пресс-формы (брикетирование пробы). |
 |
• Полировальный станок |
 |
• Набор масок для кювет (диаметр от 5 мм до 30 мм, материал – Al, Ti, Ni, Cu, Zr, Mo, сталь) |
 |
• Кювета для твердых проб. |
 |
• Кювета для локального анализа. |
 |
• Кювета для жидких образцов (в атмосфере воздуха или гелия). |
 |
• Кювета для жидких проб (в атмосфере вакуума) |
 |
• Бумажные фильтры |
 |
• Ионно-обменные бумажные фильтры |
КАТАЛОГ ОБОРУДОВАНИЯ
НОВИНКИ
АКЦИИ