- Оборудование
- Оборудование для исследования поверхности и микро/нано объектов
Оборудование для исследования поверхности и микро/нано объектов
-
Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-1720 (Shimadzu, Япония)
Достаточно простой для использования новичками, электронно-зондовый микроанализатор EPMA-1720 также поддерживает проведение сложных анализов опытными пользователями.
-
Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-8050G (Shimadzu, Япония)
Электронно-зондовый микроанализатор оборудован передовой электронной оптической системой с полевой эмиссией, обеспечивающей беспрецедентное пространственное разрешение СЭМ изображений даже при высоких токах зонда (до 1 мкА).
-
Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700HT (Shimadzu, Япония)
SPM-9700HT позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), магнитно-силовой (LFM), сканирующей туннельной микроскопии (STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM).
-
Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения SPM-8000FM (Shimadzu, Япония)
В сканирующем зондовом микроскопе SPM-8000FM используется атомно-силовой метод с частотной модуляцией, а не с амплитудной, как у большинства аналогичных приборов.
-
Динамические микротвердомеры серии DUH-211/211S (Shimadzu, Япония)
Динамические микротвердомеры серии DUH-211/211S разработаны компанией SHIMADZU для использования во всех отраслях промышленности. Микротвердомеры предназначены для определения твердости поверхности материалов и готовых изделий.
-
Лазерный анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus (Shimadzu, Япония)