(812) 325-55-02 info@analit-spb.ru
Генеральный дистрибьютор

Рентгеновский дифрактометр XRD-7000

Скачать буклет

Описание

Исследовательский дифрактометр XRD-7000 с вертикальным θ-θ гониометром (проба всегда неподвижна) используется для проведения рентгенофазового анализа, анализа степени кристалличности, анализа напряжений, остаточного аустенита и решения многих других задач. Наличие защитного корпуса обеспечивает полную безопасность оператора. Возможность использования любых рентгеновских трубок, соответствующих европейскому стандарту, а также широкий выбор дополнительных приставок делает рентгеновский дифрактометр XRD-7000 Shimadzu универсальными и подходящими для решения любых аналитических задач.

Прибор поставляется с программным обеспечением, позволяющим осуществлять сбор, хранение, интерпретацию и обработку данных, текущий контроль состояния дифрактометра, качественный и количественный фазовый анализ и другие исследования, конвертацию файлов экспериментальных данных в текстовые форматы, возможность создавать собственные библиотеки данных.


Серия XRD-7000 представлена двумя моделями XRD-7000S и XRD-7000L, с разным расстоянием хода рентгеновского пучка до основания приставки (85 мм и 220 мм соответственно). Модель XRD-7000L создана прежде всего для анализа образцов большого размера до 400 мм х 550 мм х 400 мм.

Дополнительные принадлежности

RS-1001Столик для вращения образца.
RS-1001 выполняет плоскостное вращение образца в сочетании с колебанием вокруг оси (θ) гониометра, чтобы минимизировать разброс интенсивности дифракционной картины, относящийся к кристаллической ориентации образца, и тем самым повысить точность большинства типов количественного анализа.

 

 

ASC-1001

 5-и позиционный автоматический сменщик образцов.

 

 

 

 

 

 

 MDA-1101/1201Приставка для микроизмерений MDA-1101/1201.

Приставка для микроизмерений применяет щель для излучения, позволяющая измерять микрообласти.

Диаметр щели: 0.1, 0.2, 0.3, 0.5, 1.0 или 2.0мм

Перемещение по XYZ: ±7.5мм

Способ наблюдения за поверхностью образца: оптический микроскоп (MDA-1201) и CCD камера с увеличением 8-80мм

 Модуль поликапиллярной оптики.

 

 

 

  

 

Высокотемпературная приставка (макс. температура до 2300°С).
Низкотемпературная приставка, температурный диапазон от -190°С до +600°С.
Приставка для анализа больших образцов R-Theta (только для XRD-7000L).
Приставка для построения полюсных фигур.
Приставка для анализа тонких пленок (минимальный угол падения 0.1°).
Монохроматор для рентгеновской трубки (Cu, Co, Fe, Cr).

 

 

 

Технические характеристики

Позиция

Наименование

XRD-7000, 2 кВ

XRD-7000, 3 кВ

Рентгеновская трубка

Материал анода

Cu, Co, Fe, Cr,  на выбор, нормальный фокус

Cu, Co, Fe, Cr на выбор, широкий или линейный фокус

Размеры фокуса

1,0 x 10 мм

2,0 x 12 мм
0,4 х 12 мм

Максимальная мощность

2 кВ

3 кВ

Рентгеновский генератор

Максимальная мощность

3 кВ

Максимальные параметры работы

60 кВ -80 мА

Защита трубки

Защита от превышения мощности,
перегрузок по току и напряжению

Механизм защиты

Механизм блокировки двери
Аварийный стоп

Гониометр

Тип

Вертикальный Θ-Θ

Радиус Гониометра

275 мм стандартный ( может меняться от 200 до 275 мм

Размеры образца максимальные

400мм *550 мм* 400 мм

Диапазон углов сканирования

 

 от -12 до 164°(2Θ),

от -6 до +82° (Θs);

-6°до +132°(Θd)

Автосамплер

5 позиций ( опция)

Минимальный шаг сканирования

0, 0002° ( 2Θ) ; 0,0001° (Θ)

Режимы работы

Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, калибровка, позиционирование, осцилляция по оси Θ

Скорость сканирования

0,1°-50°/ мин (Θs, Θd); 0,1°-100°/ мин ( 2Θ)

Детектор

(на выбор)

Сцинцилляционный счетчик

Кристалл NaI

Время измерения шага 0,1~1000 сек

Линейная скорость счета 100000 имп/сек

Высокоскоростной широкоугольный детектор

Количество каналов 1280

Область регистрации 64х8мм

Дополнительное программное обеспечение
(опция)

Расчет остаточного аустенита
Расчет прецизионных параметров решетки
Определение типа кристаллической решетки
Определение кристаллитов и искаженний решетки
Определение степени кристалличности
База данных порошковых дифрактограмм ICDD
Анализ Rietveld

 

Применения

анализ керамики и огнеупоров анализ объектов окружающей среды природные ресурсы химикаты, катализаторы анализ черных, цветных металлов машиностроение, автомобили, судостроение фармацевтические препараты

ПРЕДЛАГАЕМ
ОБОРУДОВАНИЕ В ЛИЗИНГ!Подробности в отделе продаж
(812) 325 4008
БЛИЖАЙШИЕ МЕРОПРИЯТИЯ
Семинар «АНАЛИТ- SHIMADZU» в Нижнем Новгороде
Группа компаний АНАЛИТ приглашает вас принять участие в семинаре “АНАЛИТ- SHIMADZU”.