Рентгеновский дифрактометр XRD-7000

Скачать буклет

Описание

Дифрактометр

 

  • Высокопрецизионный вертикальный θ - θ гониометр, разработанный для работы с образцами большого размера до 400мм(Ш) х 550мм(Г) х 400мм (В) максимум.
  • Большой R-θ столик для образцов диаметром до 350мм и высотой 190мм (опция).
  • Автоматическое картирование напряжения.
  • Система поликапиллярной оптики, обеспечивающая параллельный рентгеновский пучок и принципиальное улучшение соотношения пик/фон (опция).

Технические характеристики

ПозицияНаименованиеXRD-7000, 2 кВXRD-7000, 3 кВ
Рентгеновская трубкаМатериал анода Cu, Mo, Co,Fe, Cr, W на выбор, нормальный фокус Cu, Mo, Co,Fe, Cr на выбор, широкий или линейный фокус
Размеры фокуса 1,0*10 мм

2,0* 12 мм
0,4*12 мм

Максимальная мощность 2 кВ 3 кВ
Рентгеновский генераторМаксимальная мощность
3 кВ
Максимальные параметры работы 60 кВ -80 мА
Защита трубки

Защита от превышения мощности,
перегрузок по току и напряжению

Механизм защиты Механизм блокировки двери
Аварийный стоп
Гониометр
Тип Вертикальный Θ-Θ
Радиус Гониометра 275 мм стандартный ( может меняться от 200 до 275 мм
Размеры образца максимальные 400мм *550 мм* 400 мм
Диапазон углов сканирования  

 от -12 до 164°(2Θ),

от -6 до +82° (Θs);

-6°до +132°(Θd)

Автосамплер 5 позиций ( опция)
Минимальный шаг сканирования 0, 0002° ( 2Θ) ; 0,0001° (Θ)
Режимы работы Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, калибровка, позиционирование, осцилляция по оси Θ
Скорость сканирования 0,1°-50°/ мин (Θs, Θd); 0,1°-100°/ мин ( 2Θ)
Детектор
(на выбор)
Сцинцилляционный счетчик

Кристалл NaI

Время измерения шага 0,1~1000 сек

Линейная скорость счета 100000 имп/сек

Высокоскоростной широкоугольный детектор

Количество каналов 1280

Область регистрации 64х8мм

Дополнительные принадлежности
( опции)

Система поликапиллярной оптики
Система автоматически меняющихся щелей
Противомонохроматор
Приставка для анализа тонких пленок
Приставка для анализа волокон с программным обеспечением
Приставка для анализа микрообъектов с цифровой видеокамерой
Приставка для анализа напряжений с программным обеспечением
Высоко- и низкотемпературные камеры
Приставка для текстурного анализа с программным обеспечением

Дополнительное программное обеспечение
(опция)
Расчет остаточного аустенита
Расчет прецизионных параметров решетки
Определение типа кристаллической решетки
Определение кристаллитов и искаженний решетки
Определение степени кристалличности
База данных порошковых дифрактограмм ICDD
Анализ Rietveld

Применения

анализ керамики и огнеупоров анализ объектов окружающей среды природные ресурсы химикаты, катализаторы анализ черных, цветных металлов машиностроение, автомобили, судостроение фармацевтические препараты

НОВИНКИ ОБОРУДОВАНИЯ
ПРЕДЛАГАЕМ
ОБОРУДОВАНИЕ В ЛИЗИНГ! Подробности в отделе продаж
(812) 325 4008
БЛИЖАЙШИЕ МЕРОПРИЯТИЯ
Международная конференция “Flow Injection Analysis and Related Techniques”
С 3 по 8 сентября в городе на Неве состоится международная конференция “Flow Injection Analysis and Related Techniques”.
НОВОСТИ