Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения SPM-8000FM

Описание

Впервые в сканирующем зондовом микроскопе используется атомно-силовой метод с частотной модуляцией, а не с амплитудной, как у большинства аналогичных приборов.
Использование данного метода позволяет существенно уменьшить шумы (до 1/20 шумов приборов с амплитудной модуляцией).

Уровень шумов составляет всего: 20 фм/√Гц!

Новый дизайн головки существенно снижает температурный дрейф и составляет
всего 1 нм/мин!
Благодаря этому с помощью микроскопа SPM-8000FM можно исследовать образцы
на воздухе и в жидкостях в качестве сопоставимом с приборами, работающими только в вакууме! Впервые становится возможным наблюдения гидратации / сольватации слоев на границе раздела твердой и жидкой фаз (с возможностью построения 3D-изображений процесса)!

Применения

исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела

НОВИНКИ ОБОРУДОВАНИЯ
ПРЕДЛАГАЕМ
ОБОРУДОВАНИЕ В ЛИЗИНГ! Подробности в отделе продаж
(812) 325 4008
БЛИЖАЙШИЕ МЕРОПРИЯТИЯ
Международная конференция “Flow Injection Analysis and Related Techniques”
С 3 по 8 сентября в городе на Неве состоится международная конференция “Flow Injection Analysis and Related Techniques”.
НОВОСТИ