(812) 325-55-02 info@analit-spb.ru
Генеральный дистрибьютор

Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700

Описание

Сканирующая зондовая микроскопия -- метод исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела.
SPM-9700 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), магнитно-силовой (LFM), сканирующей туннельной микроскопии (STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM).
Графический интерфейс в среде Windows обеспечивает полное управление прибором, анализ и документирование результатов.

C помощью SPM-9700 можно:
Получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
Измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность);
- электрических (потенциал, проводимость);
- магнитных (распределение намагниченности).

Широкое разнообразие функций 3D изображения при использовании операций с мышью принадлежности.
Использование мыши для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.

Увеличение масштаба изображения

 

Функция текстуры

Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами. 

В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.

Программное обеспечение для исследования частиц (опция)

Программное обеспечение для исследования частиц выделяет множество частиц из изображения, полученного с помощью SPM-9700, и рассчитывает характерные значения для каждой частицы, затем анализирует и показывает результаты. Это особенно подходит для статистической обработки данных. Цифровые данные можно экспортировать.

Сканирующий зондовый микроскоп с контролем окружающей среды. Серия WET-SPM

WET-SPM

При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 можно превратить в систему серии WET-SPM. Это возможно только для SPM-9700, который оптимизирован для операций в климатической камере благодаря включению таких характеристик, как запатентованный Шимадзу механизм скольжения головки, выполнение операций с передней стороны, открытый дизайн головки и полная автоматизация. Это особенно подходит для образцов, разлагающихся на воздухе и во влажной атмосфере.

Климатические камеры CH-II / CH-III

Климатические камеры, CH-II (без турбо-молекулярного насоса) и CH-III (с турбомоле-кулярным насосом) были разработаны специально для SPM-9700 как камеры со встроенным демпфером вибраций. Так как камера позволяет контролировать образец и окружающую среду, SPM можно использовать для непосредственного наблюдения образцов, обрабатываемых в контролируемой среде. Большой обзорный порт и два порта для перчаток позволяют обрабатывать образцы внутри камеры. Добавленные опции для in-situ SPM позволяет исследования в реальном времени поверхностных изменений, обусловленных изменениями физических параметров – температуры, влажности, давления, люминесценции, концентрации. Блок SPM можно легко поместить в камеру и выгрузить из нее с тыла, что позволяет использовать его для наблюдений в обычной атмосфере и в контролируемой среде. 

Контроллер температуры и влажности

Контроллер подсоединен к климатической камере для контроля температуры и влажности.

Блок подачи газа

Блок подачи газа подсоединен к запасному порту для подачи небольших количеств газа к образцу.

 

 

 

Блок нагрева и охлаждения образца

Образец, помещенный в SPM, можно нагревать или охлаждать. Блок может функционировать в атмосферных условиях, в зависимости от образца.

Блок излучение света

Блок пригоден для использования оптоволоконного источника для освещения поверхности образца. Может функционировать в атмосферных условиях.

Технические характеристики

Разрешение

горизонтальное 0,2 нм; вертикальное 0,01 нм

Диапазоны сканирования

стандартный: 30мкм х 30мкм х 5мкм;

опционные: 125 мкм х 125мкм х 7 мкм; 55 мкм х 55мкм х 13 мкм; 2.5 мкм х 2.5мкм х 0.3 мкм

Размеры образца

до 24 мм (диам.)х8 мм

 

 

Стандартные режимы работы:

  • Контактный режим;
  • Режим латеральных сил;
  • Динамический режим;
  • Фазовый режим;
  • Режим силовой модуляции;
  • Силовая кривая.

 

Опциональные режимы работы:

  • Режим проводимости;
  • Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия);
  • Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия);
  • Силовое картирование;
  • Режим векторного сканирования;
  • Режим сканирования в слое жидкости;
  • Электрохимическая атомно-силовая микроскопия.

 

Опции для расширения возможностей SPM-9700:

  • Оптический микроскоп с цифровой камерой;
  • Волоконно-оптический осветитель;
  • Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования;
  • Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы;
  • Программа анализа распределения частиц по размерам.

Применения

Материаловедение, полупроводниковая промышленность, биология, медицина, физические и химические исследования.

ПРЕДЛАГАЕМ
ОБОРУДОВАНИЕ В ЛИЗИНГ!Подробности в отделе продаж
(812) 325 4008
БЛИЖАЙШИЕ МЕРОПРИЯТИЯ
Семинар «АНАЛИТ- SHIMADZU» в Ульяновске
ТЕКУЩИЕ АКЦИИ
АКЦИЯ! Весы аналитические Shimadzu ATX224 220г/0,1мг с поверкой всего за 90 000 рублей!
АКЦИЯ!  Весы аналитические Shimadzu ATX224 220г/0,1мг с поверкой всего за 90 000 рублей!

Простые и надежные аналитические весы с измерительной ячейкой типа «моноблок». Сочетают в себе высокое качество работы с бюджетной стоимостью.