Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700HT (Shimadzu, Япония)

Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700HT позволяет исследовать формы и локальных свойств поверхности твердого тела. 

С помощью SPM-9700HT можно проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), магнитно-силовой (LFM), сканирующей туннельной микроскопии (STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM).

Графический интерфейс в среде Windows обеспечивает полное управление прибором, анализ и документирование результатов.

Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700HT позволяет:

• Получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.

• Измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:

—  механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность);
—  электрических (потенциал, проводимость);
—  магнитных (распределение намагниченности).

Широкое разнообразие функций 3D изображения при использовании операций с мышью принадлежности.

Использование мыши для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.

Увеличение масштаба изображения

Функция текстуры

Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами. 

В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.

Программное обеспечение для исследования частиц (опция)

Программное обеспечение для исследования частиц выделяет множество частиц из изображения, полученного с помощью SPM-9700HT, и рассчитывает характерные значения для каждой частицы, затем анализирует и показывает результаты. Это особенно подходит для статистической обработки данных. Цифровые данные можно экспортировать.

Сканирующий зондовый микроскоп с контролем окружающей среды. Серия WET-SPM

При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT можно превратить в систему серии WET-SPM. Это возможно только для SPM-9700HT, который оптимизирован для операций в климатической камере благодаря включению таких характеристик, как запатентованный Шимадзу механизм скольжения головки, выполнение операций с передней стороны, открытый дизайн головки и полная автоматизация.

Это особенно подходит для образцов, разлагающихся на воздухе и во влажной атмосфере.

Климатические камеры CH-II / CH-III

Климатические камеры, CH-II (без турбо-молекулярного насоса) и CH-III (с турбомоле-кулярным насосом) были разработаны специально для SPM-9700HT как камеры со встроенным демпфером вибраций. Так как камера позволяет контролировать образец и окружающую среду, SPM можно использовать для непосредственного наблюдения образцов, обрабатываемых в контролируемой среде. Большой обзорный порт и два порта для перчаток позволяют обрабатывать образцы внутри камеры. Добавленные опции для in-situ SPM позволяет исследования в реальном времени поверхностных изменений, обусловленных изменениями физических параметров – температуры, влажности, давления, люминесценции, концентрации. Блок SPM можно легко поместить в камеру и выгрузить из нее с тыла, что позволяет использовать его для наблюдений в обычной атмосфере и в контролируемой среде.

Контроллер температуры и влажности

Контроллер подсоединен к климатической камере для контроля температуры и влажности.

Блок подачи газа

Блок подачи газа подсоединен к запасному порту для подачи небольших количеств газа к образцу.

Блок нагрева и охлаждения образца

Образец, помещенный в SPM, можно нагревать или охлаждать. Блок может функционировать в атмосферных условиях, в зависимости от образца.

Блок излучение света

Блок пригоден для использования оптоволоконного источника для освещения поверхности образца. Может функционировать в атмосферных условиях.

Материаловедение, полупроводниковая промышленность, биология, медицина, физические и химические исследования.