(812) 325-55-02 info@analit-spb.ru
Генеральный дистрибьютор

Растровые электронные микроскопы серии EVO

Описание

Растровые электронные микроскопы EVO MA

Все микроскопы серии EVO в своей конструкции использую передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать несравнимо лучшее качество изображения в режиме переменного давления (VP).

Три модификации микроскопа EVO MA

 

 EVO MA 10 предпочитает большинство пользователей при анализе материалов. Большой 5 осевой столик, режим низкого вакуума в стандартной комплектации, множество дополнительных аксессуаров и удобное программное обеспечение SmartSEM делает EVO MA 10 прекрасным решением для современного анализа материалов.

 

EVO MA 15 предпочтителен при решении материаловедческих аналитических задач для исследования более тяжелых и крупных образцов.  Прикладные области - геология, судебная экспертиза и анализ дефектов.

 EVO MA 25 является предпочтительным для тех пользователей, которые исследуют очень крупные и тяжелые образцы. EVO MA 25 имеет более высокую камеру, которая в состоянии вместить в себя образцы больше чем 200 мм высотой. Прикладные области - судебная экспертиза, музейные экспонаты, производство автомобилей, космос, ЖК экраны и печатные платы.

 

Растровые электронные микроскопы EVO HD MA

EVO HD MA обеспечивает инновационное улучшение разрешение по сравнению с обычными растровыми микроскопами. EVO с технологией улучшенного разрешения HD значительно опережает все растровые электронные микроскопы своего класса. Непревзойденное разрешение при низких ускоряющих напряжениях делает EVO HD безальтернативным выбором для исследования чувствительных к электронному лучу образцов. Технология HD обеспечивает высокую точность количественного анализа при низком вакууме, требуемую в широком диапазоне различных исследований.

Серия микроскопов EVO HD MA доступна в трех вариантах (10, 15, 25) , различный размер камеры микроскопа в зависимости от требований аналитической лаборатории. EVO HD MA демонстрирует превосходную гибкость платформы EVO при анализе различных материалов с максимально лучшим разрешением и качеством изображения.

Серия микроскопов EVO HD MA обеспечивает 40 - 100 кратное увеличение яркости обычного вольфрамового источника и позволяет улучшить более чем в два раза разрешение микроскопа при ускоряющем напряжении 1 кВ.

Технические характеристики

Технические характеристики растровых электронных микроскопов EVO MA

 

Разрешение 3 нм (2нм) @ 30 кВ, SE, W (LaB6)
4.5 нм @ 30 кВ, BSD (VP режим)
15 нм @ 30 кВ, 1нА, LaB6
20 нм (15 нм) @ 1 кВ, SE, W (LaB6)
10 нм @ 3 кВ, SE
Ускоряющее напряжение 0.2 – 30 кВ
Увеличение EVO MA10 и LS10 EVO MA15+25 и LS15+25
< 7 – 1 000 000x < 5 – 1 000 000x
Размер поля зрения 6 мм на аналитическом рабочем отрезке (AWD)
X-ray анализ 8.5 мм AWD и 35 градусах наклона детектора
Режимы OptiBeam ® Разрешение, анализ, глубина резкости, поле, «рыбий глаз»
Диапазон давления 10 – 400 Па (серия MA)
10 – 3000 Па (серия LS)
Доступные детекторы BSD – детектор обратнорассеяных электронов
ETSE – детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли
VPSE – детектор вторичных электронов для VP режима
EPSE – детектор вторичных электронов для EP режима
SCD – измеритель тока через образец
STEM – детектор проходящих электронов (просвечивающий режим)
CL –катодолюминесцентный детектор
Камера образца EVO MA10 и LS10 EVO MA15 и LS15 EVO MA25 и LS25
310мм(Ø) x 220мм(h) 365мм(Ø) x 275мм(h) 420мм(Ø) x 330мм(h)
5-ти осевой моторизованный столик образца EVO MA10 и LS10 EVO MA15 и LS15 EVO MA25 и LS25
X = 80 мм, Y = 100 мм, X = 125 мм, Y = 125 мм, X = 130 мм, Y = 130 мм,
Z = 35 мм, T =-10 ° +90º, Z = 50 мм, T = -10° + 90º, Z = 50 мм, T = -10° +90º,
R = 360º (непрерывно) R = 360º (непрерывно) R = 360º (непрерывно)
Управление мышью Управление мышью Управление мышью
или дополнительным джойстиком и или дополнительным джойстиком и или дополнительным джойстиком и
с панели управления с панели управления с панели управления
Максимальная высота образца EVO MA10 и LS10 EVO MA15 и LS15 EVO MA25 и LS25
  100мм 145мм 210мм
Возможные модификации BeamSleeve®, режим расширенного давления (EP), напуск паров воды в камеру
Размер изображения 3072 x 2304 точек, режим однократного накопления и непрерывного отображения
Система управления SmartSEM® GUI управление мышью и клавиатурой
Windows® XP мультиязычная операционная система
Дополнительная информация Питание: 100 – 240 В, 50 или 60 Гц одна фаза, охлаждение воздушное

 Технические характеристики EVO HD15 и HD25

 

Разрешение 1.9 нм

@ 30 кВ, SE

3 нм @ 30 кВ, SE (VP режим)
10 нм @ 30 кВ, 1нА
5 нм @ 3 кВ, SE
8 нм @ 1 кВ, SE
Ускоряющее напряжение 0.2 – 30 кВ
Увеличение < 5 – 1 000 000x
Размер поля зрения 6 мм на аналитическом рабочем отрезке (AWD)
X-ray анализ 8.5 мм AWD и 35 градусах наклона детектора
Режимы OptiBeam ® Разрешение, анализ, глубина резкости, поле, «рыбий глаз»
Диапазон давления 10 – 400 Па (конфигурация MA)
10 – 3000 Па (конфигурация LS)
Доступные детекторы BSD – детектор обратнорассеяных электронов
ETSE – детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли
VPSE – детектор вторичных электронов для VP режима
EPSE – детектор вторичных электронов для EP режима
SCD – измеритель тока через образец
STEM – детектор проходящих электронов (просвечивающий режим)
CL –катодолюминесцентный детектор
Камера образца EVO HD15 EVO HD25
365мм(Ø) x 275мм(h) 420мм(Ø) x 330мм(h)
5-ти осевой моторизованный столик образца EVO HD15 EVO HD25
X = 125 мм, Y = 125 мм, X = 130 мм, Y = 130 мм,
Z = 50 мм, T =-10 ° +90º, Z = 50 мм, T = -10° +90º,
R = 360º (непрерывно) R = 360º (непрерывно)
Управление мышью Управление мышью
или дополнительным джойстиком и или дополнительным джойстиком и
с панели управления с панели управления
Максимальная высота образца EVO HD15 EVO HD25
145 мм 210 мм
Возможные модификации BeamSleeve®, режим расширенного давления (EP), напуск паров воды в камеру
Размер изображения 3072 x 2304 точек, режим однократного накопления и непрерывного отображения
Система управления SmartSEM® GUI управление мышью и клавиатурой
Windows® XP мультиязычная операционная система
Дополнительная информация Питание: 100 – 240 В, 50 или 60 Гц одна фаза, охлаждение воздушное

 

Применения

Машиностроение

Приборостроение

Металлообработка

Геология

Микроэлектроника

Исследовательские институты (НИИ)

Реставрационная деятельность

Атомная энергетика

Криминалистика

ПРЕДЛАГАЕМ
ОБОРУДОВАНИЕ В ЛИЗИНГ!Подробности в отделе продаж
(812) 325 4008
БЛИЖАЙШИЕ МЕРОПРИЯТИЯ
Школа-семинар по спектральным методам анализа в ноябре
Школа-семинар «Современные спектральные методы (атомно-абсорбционный анализ, оптический эмиссионный анализ, рентгенофлуоресцентный и рентгеноструктурный анализ, молекулярная спектроскопия) и их метрологическое обеспечение».