(812) 325-55-02 info@analit-spb.ru
Генеральный дистрибьютор

Лазерный анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus

Скачать буклет

Описание

Анализатор размеров наночастиц  IG-1000 Plus -- это уникальный инструмент, который позволяет проводить измерения не только в нано, но и в суб-нано диапазоне. Революционный метод измерения, созданный компанией Шимадзу позволяет измерять размеры наночастиц  в диапазоне от 0,5 до 200 нм с высокой точностью простым и эффективным способом. Этот метод результативен и при анализе размеров одиночных наночастиц.

  • Высокочувствительный анализ размеров частиц.
    Для анализа используется метод индуцированной решетки (IG), который базируется на новом принципе измерения размеров наночастиц. Этот метод позволяет даже в области одиночных наночастиц получать хорошее соотношение сигнал/шум, благодаря чему возможны стабильные измерения с хорошей воспроизводимостью.

  • Сопротивляемость загрязнению.
    Благодаря использованию метода  индуцированной решетки (IG), загрязнения исходного образца не оказывает  существенного влияния на результаты измерения. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не является обязательной.

  • Высокая воспроизводимость.
    Новый метод измерения (IG) гарантирует высокую воспроизводимость и получение стабильных данных и, следовательно, устраняет недостоверность и неточность при  анализе частиц в нано области. Это является особенно важным при анализе частиц размером меньше 10 нм.

  • Современное программное обеспечение WINGIG.
    Программное обеспечение, совместимое с операционными системами Windows, предназначено для управления прибором, обработки и вывода полученных данных.

  • Метод индуцированной решетки.
    На специальным образом расположенные электроды, помещенные в среду с диспергированными частицами, подается переменное напряжение. Вследствие этого создается определенное расположение частиц в жидкости, так называемая индуцированная дифракционная решетка. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют и дифракционная решетка распадается. Сенсоры регистрируют изменение интенсивности света при распаде дифракционной решетки, что позволяет получить данные о распределении частиц по размерам.

Технические характеристики

Метод измерений

IG-метод (метод индуцированной решетки)

Диапазон измерений

0.5-200 нм

Время измерения

30 секунд (от начала измерения до получения результата)

Количество анализируемого жидкого образца

250-300 мкл

детектор

Фотодиод

Источник света

Полупроводниковый лазер (785 нм, выходящий сигнал 3 мВт)

Ячейка

Емкостная ячейка

Габариты (Ш×Г×В)

600×400×200 мм

Вес

15 кг

Применения

  • Анализ размеров нано частиц
ПРЕДЛАГАЕМ
ОБОРУДОВАНИЕ В ЛИЗИНГ!Подробности в отделе продаж
(812) 325 4008
БЛИЖАЙШИЕ МЕРОПРИЯТИЯ
Школа-семинар по спектральным методам анализа в ноябре
Школа-семинар «Современные спектральные методы (атомно-абсорбционный анализ, оптический эмиссионный анализ, рентгенофлуоресцентный и рентгеноструктурный анализ, молекулярная спектроскопия) и их метрологическое обеспечение».